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基恩士发布形状测量激光显微系统VK-X100/X200系列

导读: 日本知名企业基恩士在北京召开了媒体见面会。会上指出将加强在中国市场形状测量激光显微系统VK-X100/X200 系列的销售。

  3月27日,工业自动化领域,销售传感器、测量仪器、显微系统以及逻辑控制系统的供应商,日本知名企业基恩士在北京召开了媒体见面会。会上指出将加强在中国市场「形状测量激光显微系统VK-X100/X200 系列」的销售。VK-X100/X200 系列1台机器便可以实现无与伦比的高分辨率大范围形状测量。

  高分辨率,大景深观察

  (1) 高分辨率, 最大放大24000 倍

  (2) 完全聚焦的清晰图像

  (3) 符合溯源性要求

  仿佛彩色 SEM

  (1) 16 bit 激光彩色观察

  (2) 放置并且测量,您可以在几秒钟内进行分析

  (3) 可拆卸测量头单元允许各种尺寸的样品测量。可拆卸测量头单元可以与其他设备整合并支持远程操作。

  无损轮廓和粗糙度测量

  (1) 非接触式设计,可用于测量软质的工件

  (2) 方便定位测量区域

  (3) 激光光束波长比表面粗糙度测量直径小

激光显微系统VK-X100/X200系类

激光显微系统VK-X100/X200系类

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