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激光粒度仪专利一览表

导读: 所谓激光粒度仪是专指通过颗粒的衍射或散射光的空间分布(散射谱)来分析颗粒大小的仪器。

  所谓激光粒度仪是专指通过颗粒的衍射或散射光的空间分布(散射谱)来分析颗粒大小的仪器。根据能谱稳定与否分为静态光散射粒度仪和动态光散射激光粒度仪。

  激光粒度仪是采用散射原理,通过检测颗粒的散射谱来测定颗粒群粒度分布的专用仪器。激光器发出的激光经滤波扩束处理经傅立叶透镜照到样品窗,当样品窗中无颗粒时,激光会聚在探头中心,样品窗有颗粒,激光被散射,散射光由探头检测并转换为电信号,由计算机根据散射信号计算颗粒分布,计算结果在液晶显示器显示或由微型打印机打印出来。 探头一般是半圆环状的光电探测器阵列,每一个环为一个独立的探测单元,代表一个特定的空间频率区间,由此探测器就可以获得被测颗粒群的散射谱,根据散射谱就可以分析颗粒群的粒度分布。

  激光粒度仪的相关专利如下:

激光粒度仪相关专利一览表

图为 激光粒度仪相关专利一览表

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