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武汉中国光谷论坛 钒创推误码分析仪

导读: 湖北两岸光电子信息产业暨武汉中国光谷高峰论坛于5月9日在台北圆山饭店举行,期间武汉市人民政府市长唐良智,湖北省人民政府省长王国生,武汉东湖新技述开发区管理委员会主任张光清,武汉邮电科学研究院、烽火科技集团、夏存海总会计师,武汉日新科技股份有限公司总经理徐进明等均参与活动。

  湖北两岸光电子信息产业暨武汉中国光谷高峰论坛于5月9日在台北圆山饭店举行,期间武汉市人民政府市长唐良智,湖北省人民政府省长王国生,武汉东湖新技述开发区管理委员会主任张光清,武汉邮电科学研究院、烽火科技集团、夏存海总会计师,武汉日新科技股份有限公司总经理徐进明等均热烈参与两案光电子信息活动。

  台湾与武汉光谷论坛之分组技术研讨亦紧接着展开,其中 Mediatek联发科技股份有限公司董事长 蔡明介与Phytrex钒创科技股份有限公司技术总监李至伟均发表看法。其中Phytrex钒创科技亦针对光电子器件相关测试之误码分析仪Bit Error Rate Tester作出说明如下:

  钒创推出支援多种软体平台的误码分析仪PBR E-BER T

  -推出3Gbps、5Gbps和10Gbps版本的误码分析仪,多种速率可供选择

  -提供Labview、VB.net和C#.net的driver

  钒创科技(Phytrex)推出3Gbps、5Gbps和10Gbps版本的误码分析仪,支援多元平台的软体操作介面,包含Labview、VB .net和C# .net的driver,可以配合生产线设备系统整合,附有driver的使用手册及使用范例,方便软体开发人员依喜好需求做设计。电脑执行程式操作容易,并使得档案储存和资料分析变的更加便利及快速。完整电和光介面的讯号产生器和误码分析,资料速率从1Mbps到10Gbps有多个速率可供选择。内键时脉资料回復机制(CDR),能做到资料同步,用来作为业界生产测试或实验室研究都很适合。

  附件1产品相片, 附件2软体平台

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