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炬光科技相关专利一览---半导体激光器

  24.大功率半导体激光器光学整形系统

  申请号:201120357532.2申请日:20110922主分类号:G02B27/09[公告号]202230249U[公告日]2012年5月23日

  本实用新型提供一种大功率半导体激光器光学整形系统,以解决现有半导体激光器聚焦系统聚焦能量密度不高,无法将激光输出耦合入更小芯径的光纤内,从而导致输出亮度有限的技术问题。其包括在光轴上沿光源输出方向依次设置的压缩准直元件/组件、具有梯度聚焦性质的光学元件/组件。本实用新型的半导体激光器激光光源作为激光产生装置,其出射光束的发散角在快慢轴上各不相同并且相差很大,本实用新型利用梯度聚焦对半导体激光器的出射光束进行光学整形,其中,梯度聚焦的作用在于当激光光束通过它以后,激光光束进行梯度聚焦,输出的光束耦合进大于等于50um的光纤之中。本实用新型的制作工艺简单、功率高、亮度高。

  权利要求

  一种大功率半导体激光器光学整形系统,其特征在于:包括在光轴上沿光源输出方向依次设置的压缩准直元件/组件、具有梯度聚焦性质的光学元件/组件。

  25.一种半导体激光器偏振测试方法及其测试系统

  申请号:201110283651.2申请日:20110922主分类号:G01M11/02[公开号]102435422A[公开日]2012年5月2日

  本发明提供了一种半导体激光器偏振测试方法及其测试系统,以准确测试半导体激光器偏振度及其偏振模式。本发明的方案是:半导体激光器发出的光束经压缩汇聚后入射至偏振分光器件,按照偏振态分光形成透射光和反射光,分别读取透射光功率Pmax和反射光功率Pmin,计算得出半导体激光器偏振度为(Pmax-Pmin)/(Pmax+Pmin)。

  权利要求

  一种半导体激光器偏振测试方法,其特征在于:半导体激光器发出的光束经压缩会聚后入射至偏振分光器件,按照偏振态分光形成透射光和反射光,分别读取透射光功率和反射光功率将功率较大的记为Pmax,功率较小的记为Pmin,计算得出半导体激光器偏振度为(Pmax-Pmin)/(Pmax+Pmin)。

  26.一种半导体激光器偏振测试方法及其测试系统

  申请号:201110282889.3申请日:20110922主分类号:G01M11/02[公开号]102435421A[公开日]2012年5月2日

  本发明提供了一种半导体激光器偏振测试方法及其测试系统,以精确测试半导体激光器的偏振度和判别偏振模式。本发明的偏振测试系统是在半导体激光器出射端设置有按照功率进行分光的分光器,该分光器的透射方向上依次设置有偏振滤光状态可调的偏振器件、会聚透镜/透镜组、第一功率探测装置;该分光器的反射方向上设置有按照偏振模式分光的分光棱镜,该分光棱镜分出的透射、反射光路上分别设置有第二功率探测装置和第三功率探测装置。本发明操作简单,可适用于大批量半导体激光器产品的测试,针对不同型号的激光器在测量偏振度时调节简便,可快速判定半导体激光器的偏振模式。

  一种半导体激光器偏振测试方法,其特征在于:将激光器出射光按照功率进行分光;分光得到的透射光通过偏振器件,再经过会聚透镜/透镜组会聚入射至功率探测装置;持续旋转偏振器件,相应取得功率探测装置输出的的光功率值;记录所有光功率值中的最大光功率值Pmax和最小光功率值Pmin;半导体激光器偏振度即分光得到的反射光经分光棱镜按照偏振模式对激光光束进行再次分光,分出偏振态为TE和TM的光分别取得偏振态为TE和TM的光束的光功率值,经对比即可判定出半导体激光器的偏振模式。

  27.便携式投影仪

  申请号:201130218474.0申请日:20110711主分类号:1602[公告号]301890791S[公告日]2012年4月18日

  1.外观设计产品的名称:便携式投影仪。2.外观设计产品的用途:该便携式投影仪可连接电脑主机实现电脑显示器的功能,可使用USB直接播放,可连接传统的视频输出设备,如电视机顶盒、录像机、DVD、摄像机。3.外观设计的设计要点:操作界面和整体外形。4.用于出版专利公报的设计图:指定为主视图。5.该外观设计的左视图与右视图对称,故省略左视图。

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