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炬光科技相关专利一览---半导体激光器

  15.一种半导体激光器光束切割重排的方法及其光束耦合系统

  申请号:201110454157.8申请日:20111220主分类号:G02B27/09[公开号]102520523A[公开日]2012年6月27日

  本发明提供一种半导体激光器光束切割重排的方法及其光束耦合系统。该光束耦合系统包括依次设置的半导体激光器模块、用以进行光束切割重排的一对棱镜堆、用以将切割重排后光束聚焦耦合入光纤的聚焦模块;所述的半导体激光器模块是加了微透镜的多个半导体激光器芯片堆叠组成。本发明的光束耦合系统能够提高激光器光束的聚焦效率,从而达到耦合进更小芯径光纤的目的,实现高功率、高亮度的耦合系统。

  权利要求

  一种多发光单元半导体激光器光束切割重排的方法,至少采用一对棱镜堆,每对棱镜堆由第一棱镜堆和第二棱镜堆组成,均是由多个棱镜片沿其斜边依次错位堆叠而成;所述多个棱镜片均为直角棱镜以使得入射光束与出射光束平行;多发光单元半导体激光器发出的光束经第一棱镜堆反射,分割形成与所述多个棱镜片一一对应的多个错位排列的光束单元;多个错位排列的光束单元入射至第二棱镜堆后再次反射,所述第二棱镜堆的公共斜面与第一棱镜堆的公共斜面平行,且第二棱镜堆中每个棱镜片的斜边均与第一棱镜堆中每个棱镜片的斜边垂直;使这些光束单元在与第一棱镜堆错位方向垂直的方向上再次错位排列完成这些光束单元的整合。

  16.半导体激光器老化及寿命测试保护系统

  申请号:201110453164.6申请日:20111220主分类号:G01R31/26[公开号]102520336A[公开日]2012年6月27日

  本发明提供一种半导体激光器老化及寿命测试保护系统,该系统包括半导体激光器工作平台、液冷通道、温度检测装置和计算机处理系统。若计算机监控到其中有半导体激光器温度出现异常,将通过计算机控制驱动电源停止工作;通过计算机设定流量计的上限流量和下限流量,当实际流量高于设定的上限流量或者低于设定的下限流量时,系统报警,通过计算机控制驱动电源停止输出。本发明实现了实时监测半导体激光器老化及寿命测试过程中各个半导体激光器的状态,设置多个重要监测指标,及时对冷却系统进行调节,必要时有针对地终止某个半导体激光器的老化及寿命测试工作,避免了老化及寿命测试过程中半导体激光器意外死亡。

  权利要求

  半导体激光器老化及寿命测试保护系统,其特征在于:包括半导体激光器工作平台、液冷通道、温度检测装置和计算机处理系统;所述温度检测装置包括多个温度探头和用以同时采集多路温度探头信号的温度采集模块,其中,所述多个温度探头一一对应于半导体激光器工作平台上的半导体激光器;所述温度采集模块的输出端与计算机处理系统的温度数据输入端连接,计算机处理系统的控制信号端分出多路信号线分别连接至相应的各个半导体激光器驱动电源的开关电路。

  17.一种用于激光加工的高功率半导体激光光源系统

  申请号:201120357560.4申请日:20110922主分类号:H01S5/40[公告号]202260122U[公告日]2012年5月30日

  本实用新型公开了一种用于激光加工的高功率半导体激光光源系统,包括整体呈扇形或椎体形或球形排布的多个半导体激光器叠阵和分别对应于各个半导体激光器叠阵单独设置的整形透镜组;各个半导体激光器叠阵和相应的整形透镜组形成的光轴在所述高功率半导体激光光源系统的出口汇聚。本实用新型不仅原理简单、体积小、电光转换效率高、功率高、亮度高,并且功率可调节,可实现万瓦级输出,可直接应用于激光加工领域中。

  权利要求

  一种用于激光加工的高功率半导体激光光源系统,其特征在于:包括多个单元,每个单元由一个半导体激光器叠阵和用于对该半导体激光器叠阵发出的激光光束进行整形的整形透镜组构成;所有单元的光轴在所述高功率半导体激光光源系统的出射端口交聚。

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