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施克推出激光测量新品 建立多维检测新标准

2007-02-07 10:17
月城清浅
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    全球领先的传感器系统供应商施克(SICK)近日推出其激光测量系统新品——LMS400,与LMS200相比,LMS400在更小的安装空间前提下带来了更加优异的性能:检测物体存在、区分物体、检测轮廓、控制夹具……在自动化应用领域,LMS400几乎无所不能,已经建立起了多维空间物体检测的新标准。

    LMS400已经提升到了0.1度的分辨率可以实现更加精确的物体检测,物体的轮廓结构被更好地识别,物体可用二维或者三维方式加以区别;而高达500HZ扫描频率,使得传送线上的包装箱即使以不可思议的速度传输时,仍然可以被检测到。同时LMS400出色的检测角度和检测范围甚至可以用于抓取等应用领域,比如在自动托盘和卸跺机中抓取被任意放置的混合物件。

具有灵活的接口

    新一代的LMS400在与外部其他设备相连接时,具有多种接口配置,包括Ethernet、RS422、RS232、CANBUS,同时具有数字输入输出接口以适应现代技术。LMS400建立起了新的标准以适应工业要求——快速,可靠、准确检测物体。一些实验的参与者甚至说它可能带来了一次不小的革命。

产品信息导读:   激光供应   激光求购     激光新闻    激光技术 

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