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日本分光推出新型近红外光谱仪器系列

2008-10-07 17:56
月城清浅
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    2005年3月,日本分光公司推出该公司最新系列紫外-可见-近红外光谱仪――V-7000。据日本分光公司相关人士介绍,该产品的光谱范围为 175-3300 nm,峰分辨率<0.5 nm。 

 

    该系统采用了新颖的浮动设计,极大降低了振动和环境因素对光路系统的干扰,扫描速度达到2000 nm/min。此外,V-7000可选用的附 件包括绝对反射测量系统,可自动完成对固体样品的光谱特性、薄膜厚度、角变量等方面的测试。该系统的入射角和收集角既可被设为同步模式,可同时旋转样品台 和积分球,也可设置成为交替模式。 2月1日,日本分光公司推出该公司最新系列 紫外-可见-近红外光谱仪――V-7000。据日本分光公司相关人士介绍,该产品的光谱范围为175-3300 nm,峰分辨 率<0.5 nm。 

 

    该系统采用了新颖的 浮动设计,极大降低了振动和环境因素对光路系统的干扰,扫描速度达到2000 nm/min。此外,V-7000可选用的附件包括绝对反射测量 系统,可自动完成对固体样品的光谱特性、薄膜厚度、角变量等方面的测试。该系统的入射角和收集角既可被设为同步模式,可同时旋转样品台和积分球,也可设置 成为交替模式。

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