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半导体激光器可靠性评估系统设计

2012-06-28 09:58
天堂的苦涩
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  4结束语

  设计的基于单片机控制的半导体激光器可靠性评估系统可对各种半导体激光器进行可靠性测试,由于采用了单片机与输出双回路闭环反馈控制,配以各种软、硬件保护及抗干扰措施,提高了系统长期使用的精度及稳定性。此外,该系统中电流的精度与A/D,D/A的位数有密切关系。若采用16位A/D、D/A转换器进行相应的闭环调整,电流精度会进一步提高。本文设计的可靠性评估系统在实验室已获得较好的应用。
 

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