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环太激光损伤探讨会:激光切割和加工最新进展

2013-10-31 11:22
Minor昔年
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  Xiaoyan Zhou等研究了石英基片在真空环境下,经过不同能量、不同脉冲数的355 nm激光辐照后的性能变化。认为石英基片在经过紫外预辐照后,表现出强的吸收带或荧光带,这归因于非桥氧空穴中心、缺氧缺陷,以及其他一些激光诱导损伤缺陷。

  用于高功率激光系统的光学元件必须经过光学加工和表面处理这两个基本过程。光学加工带来的表面和亚表面缺陷以及表面处理和输运等过程带来的表面污染,很大程度上降低了光学元件的损伤阈值和光学质量。此外,对于表面镀膜的光学元件,缺陷和污染对薄膜性能的影响也是需要关注和解决的问题。本议题中的报告,无论是加工技术的改进,还是诊断技术的提高,基本都是围绕着提高光学表面质量,减少表面和亚表面缺陷而展开的。尽管相关的工作对提高光学表面质量起到了很大的作用,但是从高功率激光系统的需求出发,这方面的研究工作还远远不够,特别是光学元件表面和亚表面缺陷对薄膜抗激光性能和其他性能的影响问题还在起步阶段;此外,包装、传输及应用过程中的污染导致光学元件性能下降等问题还缺乏系统的研究和足够的重视。期待着相关方面的研究工作有更大的进展。

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