激光粒度仪专利一览表
2012-05-21 09:38
来源：
OFweek激光网
所谓激光粒度仪是专指通过颗粒的衍射或散射光的空间分布（散射谱）来分析颗粒大小的仪器。根据能谱稳定与否分为静态光散射粒度仪和动态光散射激光粒度仪。
激光粒度仪是采用散射原理，通过检测颗粒的散射谱来测定颗粒群粒度分布的专用仪器。激光器发出的激光经滤波扩束处理经傅立叶透镜照到样品窗，当样品窗中无颗粒时，激光会聚在探头中心，样品窗有颗粒，激光被散射，散射光由探头检测并转换为电信号，由计算机根据散射信号计算颗粒分布，计算结果在液晶显示器显示或由微型打印机打印出来。 探头一般是半圆环状的光电探测器阵列，每一个环为一个独立的探测单元，代表一个特定的空间频率区间，由此探测器就可以获得被测颗粒群的散射谱，根据散射谱就可以分析颗粒群的粒度分布。
激光粒度仪的相关专利如下：
图为 激光粒度仪相关专利一览表
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