12.多发光单元半导体激光器空间光谱测试装置

　　申请号：201120357535.6申请日：20110922主分类号：G01J3/28[公告号]202305012U[公告日]2012年7月4日

　　本实用新型提供了一种多发光单元半导体激光器空间光谱测试装置，能够采集多发光单元半导体激光器空间光谱信息。其原理是：在半导体激光器出光面前方设置透镜系统用于将半导体激光器多个发光单元在空间上进行放大，透镜系统前方设置光谱测量系统用于采集经透镜系统放大后的每一个发光单元的信息，将发光单元的波长信息按空间位置依次进行排布，形成空间光谱或者波长信息图。光谱测量系统可以是光谱测量装置也可以是光接收器和光谱测量装置的组合。本实用新型可以精确的扫描每一个发光单元，采集每一个发光单元的波长信息，从而在空间尺度上反映每一个单独发光点的波长，进而反映半导体激光器的热与热应力效应，且不对半导体激光器造成损伤。

　　权利要求

　　一种多发光单元半导体激光器空间光谱测试装置，其特征在于：包括第一平移台、被测半导体激光器、透镜系统、光谱测量系统及计算机；所述透镜系统置于被测半导体激光器发光面前方；所述的透镜系统用于一次放大一个或多个发光单元；所述被测半导体激光器固定在第一平移台上，所述第一平移台可进行移动以控制被测半导体激光器的位置；所述光谱测量系统置于透镜系统前方，用于依次采集经透镜系统放大后的每一个发光单元的波长信息；所述的光谱测量系统是光谱测量装置或光接收器和光谱测量装置的组合，所述的光接收器是积分球、光导管或光纤跳线；每一个发光单元的波长信息输出，并根据每个发光单元的波长信息，将每一个发光单元按空间进行排布，形成空间光谱或者将每一个发光单元的波长信息绘图。

　　13.一种半导体激光器老化／寿命测试实时监测方法及系统

　　申请号：201110454673.0申请日：20111220主分类号：G01M11/00[公开号]102519709A[公开日]2012年6月27日

　　本发明提供一种半导体激光器老化／寿命测试实时监测方法及系统，对一批半导体激光器进行老化／寿命测试的过程中，用光接收器在设定位置分别接收各个半导体激光器发出的光并导出，用光电探测器测试这些导出的光的功率或者光强；若这些导出的光中，出现功率或者光强异常，则判定该批半导体激光器在寿命老化测试中出现异常。本发明能够对半导体激光器的整个老化寿命测试过程进行全程监控，实时监测被测激光器的功率或者光强。

　　权利要求

　　一种半导体激光器老化／寿命测试的实时监测方法，其特征在于：在对一批半导体激光器进行老化／寿命测试的过程中，用光接收器在设定位置分别接收各个半导体激光器发出的光并导出，用光电探测器分别测试这些导出的光的功率或者光强；若这些导出的光中，出现功率或者光强异常，则判定该批半导体激光器在寿命老化测试中出现异常；所述设定位置是为使每一个半导体激光器被接收的光功率或光强的比例相等所确定的位置。

　　14.一种用于激光加工的高功率半导体激光光源系统

　　申请号：201110454672.6申请日：20111220主分类号：G02B27/09[公开号]102520524A[公开日]2012年6月27日

　　本发明提供一种用于激光加工的高功率半导体激光光源系统，解决目前激光加工系统存在的输出激光能量有限，体积大、成本高等问题。本发明的多个半导体激光器叠阵在高度方向上相互错位，其中一个半导体激光器叠阵发出的光束与整形透镜组处于同一光轴上，其他n－1个半导体激光器叠阵通过在各自高度位置上设置的反射镜形成反射光束，或者n个半导体激光器叠阵通过在各自高度位置上设置的反射镜形成反射光束，这些反射光束的光轴均与整形透镜组的光轴平行，在整形透镜组的入射镜面形成的光斑沿其高度方向的中心线整齐排布。本发明原理简单、实现方便，充分利用了系统整体空间，电光转换效率高、可靠性高；可直接应用于激光加工领域中。

　　权利要求

　　一种用于激光加工的高功率半导体激光光源系统，包括作为原始光源的n个半导体激光器叠阵和用于将多个半导体激光器叠阵发出的光束进行整形的整形透镜组，所述多个半导体激光器叠阵在高度方向上相互错位，其中一个半导体激光器叠阵发出的光束与整形透镜组处于同一光轴上，其他n－1个半导体激光器叠阵通过在各自高度位置上设置的反射镜形成反射光束，这些反射光束的光轴均与整形透镜组的光轴平行；在整形透镜组的入射镜面形成的光斑沿其高度方向的中心线整齐排布。