31.一种脉冲激光器功率测试方法及系统

　　申请号：201110191552.1申请日：20110708主分类号：G01J1/42[公开号]102353446A[公开日]2012年2月15日

　　本发明提供了一种脉冲激光器功率测试方法及系统，该脉冲激光器功率测试系统的测试单元包括光电转换模块、数据采集模块、校准模块和功率记录单元；所述数据采集模块用于记录光电转换模块输出的电信号，所述校准模块可根据校准系数和光电转换模块输出的电信号计算得到待测脉冲激光器的输出功率；所述输出功率＝校准系数×光电转换模块输出的电信号；所述记录单元用于记录待测脉冲激光器的峰值输出功率；校准单元的光电转换模块与测试单元的光电转换模块相同。本发明可以对激光器的实时功率进行检测；环境适用性强；可以通过连续激光器进行校准；准确性高。

　　一种脉冲激光器功率测试方法，其特征在于：包括以下步骤：1取一个与待测脉冲激光器波长相同的标准激光器作为校准激光器；所述激光器为连续激光器或脉冲激光器；2校准激光器输出激光，将校准激光器的光强信号转换为校准电信号进行采集；3将检测激光器的校准电信号和输出功率进行对比，得到校准系数；所述校准系数＝校准激光器的输出功率÷校准电信号；4取待测脉冲激光器输出激光；将待测脉冲激光器的光强信号转换为检测电信号；5检测电信号乘以校准系数，得到待测脉冲激光器的峰值输出功率。

　　32.一种用于激光加工的高功率半导体激光光源系统

　　申请号：201110283652.7申请日：20110922主分类号：H01S5/40[公开号]102324699A[公开日]2012年1月18日

　　本发明公开了一种用于激光加工的高功率半导体激光光源系统，包括整体呈扇形或椎体形或球形排布的多个半导体激光器叠阵和分别对应于各个半导体激光器叠阵单独设置的整形透镜组；各个半导体激光器叠阵和相应的整形透镜组形成的光轴在所述高功率半导体激光光源系统的出口汇聚。本发明不仅原理简单、体积小、电光转换效率高、功率高、亮度高，并且功率可调节，可实现万瓦级输出，可直接应用于激光加工领域中。

　　一种用于激光加工的高功率半导体激光光源系统，其特征在于：包括多个单元，每个单元由一个半导体激光器叠阵和用于对该半导体激光器叠阵发出的激光光束进行整形的整形透镜组构成；所有单元的激光光束在所述高功率半导体激光光源系统的出射端口交聚。

　　33.一种多波长高功率半导体激光器光源系统

　　申请号：201110283631.5申请日：20110922主分类号：H01S5/40[公开号]102324698A[公开日]2012年1月18日

　　本发明提供一种多波长高功率半导体激光器光源系统，包括集中排布的多个输出波长不同的半导体激光器，这些半导体激光器的发光面前端密封固定连接有能够将激光光束进行全反射后输出的光波导。本发明是将多个半导体激光器激光通过光波导进行全反射后射出，每个半导体激光器可单独控制，每个激光器的波长不相同，实现多波长输出后具有良好的均匀性；工艺实现简单，光学元器件耐高低温，耐振动冲击方面的能力大大提高，更加可靠。

　　一种多波长高功率半导体激光器光源系统，其特征在于：包括光波导和多个半导体激光器，所述的多个半导体激光器为集中排布的输出波长不同的多个半导体激光器，所述的光波导固定连接在多个半导体激光器的发光面前端用于将多个半导体激光器发出的激光光束进行全反射后输出。